Chroma 3680 SoC測試系統(tǒng)具有最高達(dá)1Gbps的資料速率(data rate)、平行測試更多待測物的能力及符合數(shù)位及類比IC的測試應(yīng)用需求。
因應(yīng)物聯(lián)網(wǎng)(IoT)晶片市場的蓬勃發(fā)展，致茂電子(Chroma)新推出一系列
半導(dǎo)體測試解決方案，包括Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC測試系統(tǒng)、Chroma 33010 PXIe Digital IO Card、Chroma 3260C三溫IC測試分類機(jī)、Chroma 3111迷你桌上型單站測試分類機(jī)、以及Chroma半導(dǎo)體測試設(shè)備整合MP5800射頻(RF) ATE測試專用機(jī)。
Chroma 3680 SoC測試系統(tǒng)具有最高達(dá)1Gbps的資料速率(data rate)、平行測試更多待測物的能力及符合數(shù)位及類比IC的測試應(yīng)用需求。應(yīng)用范圍包含微控制器(MCU)、數(shù)位音訊(Digital Audio)、數(shù)位電視(Digital TV，DTV)、機(jī)頂盒(Set-Top Box)、數(shù)位信號(hào)處理器(DSP)、網(wǎng)路處理器(Network Processor)、現(xiàn)場可程式邏輯門陣列(Field Programmable Gate Array，F(xiàn)PGA)及消費(fèi)性電子IC應(yīng)用市場等測試方案。
Chroma 33010 PXIe Digital IO Card，Chroma除提供傳統(tǒng)之測試系統(tǒng)Chroma 3380D 256通道與Chroma 3380P 512通道外，也在今年正式提供自動(dòng)測試系統(tǒng)(ATE)功能PXIe架構(gòu)之DIO-Model 33010，符合PXI測試方案發(fā)展應(yīng)用之趨勢及需求，以因應(yīng)未來更小IC通道及愈趨復(fù)雜功能之趨勢，尤其在IoT及汽車電子IC測試上，PXI/PXIe架構(gòu)在半導(dǎo)體測試無論在應(yīng)用多變和彈性上都有一定優(yōu)勢。應(yīng)用范圍包含微控制器(MCU)、微機(jī)電(MEMS)、射頻IC(RF IC)及電源IC (PMIC)等測試方案。
Chroma 3260C三溫IC測試分類機(jī)具備優(yōu)異的溫度性能表現(xiàn)，溫度范圍從-40攝氏度~125攝氏度，利用Nitro TEC的技術(shù)，做到快速DTC的功能；并可供多組Module Board平行測試，1至6個(gè)測試座并可符合多種封裝類型(QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP)。Chroma 3260C可快速更換待測產(chǎn)品，大幅縮短停機(jī)時(shí)間，提高使用效率及產(chǎn)能。應(yīng)用范圍為車聯(lián)網(wǎng)及云端相關(guān)概念產(chǎn)業(yè)IC元件。
Chroma 3111迷你桌上型單站測試分類機(jī)適用于工程實(shí)驗(yàn)階段系統(tǒng)功能檢測，同時(shí)具備終端電性測試能力，支援各種不同類型的封裝晶片，晶片尺寸從5x5mm到45x45mm。Chroma 3111具備遠(yuǎn)端網(wǎng)路控制功能，透過軟體設(shè)定JEDEC料盤的分配及工程測試，在60cm2的空間發(fā)揮最大的效用以節(jié)省時(shí)間和成本。
Chroma半導(dǎo)體測試設(shè)備整合MP5800射頻(RF) ATE測試專用機(jī)，涵蓋6GHz測試范圍，提供4/8 RF Port及120MHz頻寬。應(yīng)用范圍包含WiFi/BT/GPS等IoT應(yīng)用及RF元件測試(PA/LNA/Converter等)，達(dá)到RF/Digital全方位ATE(CP/FT/SLT)測試解決方案。
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